產(chǎn)品概述

　　全自動探針臺是一款高精度的自動化測試設備，專門為微電子和半導體領域設計。該設備采用先進的自動化控制系統(tǒng)，可實現(xiàn)高精度的探針定位和樣品操作，廣泛應用于集成電路、芯片測試以及材料分析等領域。

　　通過配備高性能CCD相機、自動化控制軟件和智能操作界面，全自動探針臺提供了精準、高效的測試解決方案，滿足了現(xiàn)代科技實驗和工業(yè)生產(chǎn)的需求。憑借其優(yōu)異的穩(wěn)定性和靈活性，成為科研和生產(chǎn)中的重要工具。

　　技術參數(shù)：

　　1、光學平臺

　　尺寸：60cm × 60cm，適用于多種測試需求配備高清工業(yè)級CCD，支持5X、10X、20X、50X長焦倍率

　　2、顯微鏡系統(tǒng)

　　配備三軸高精度CCD(支持更換CCD，適用于多種光學配置)

　　顯微鏡系統(tǒng)：標準配置為合并環(huán)形照明及背光照明系統(tǒng)，提供清晰的成像效果

　　4、探針臺功能

　　升降平臺：電動升降，行程可調(diào)(0.02–4mm/s)

　　XY軸：電動調(diào)節(jié)，控制范圍為50mm × 50mm，支持360°旋轉

　　Z軸：電動調(diào)節(jié)，較大行程為200mm

　　5、工作平臺

　　較大樣品尺寸：65mm × 65mm，適應大多數(shù)材料和樣品類型

　　較大樣品重量：4kg

　　6、控制系統(tǒng)

　　支持XBOX控制，軟件控制，簡化操作流程

　　電氣控制：支持自動控制與手動模式切換，適應不同的實驗需求

　　7、顯示與操作界面

　　配備高清顯示屏：780mm × 600mm，支持實時數(shù)據(jù)監(jiān)控與顯示支持多種軟件功能，增強測試的準確性和靈活性

　　8、環(huán)境要求

　　溫度范圍：0°C至40°C

　　濕度范圍：≤80% RH